CEATIM do Inmetro: estrutura operacional, equipamentos de alta tecnologia e acesso aos serviços
Guia técnico sobre o Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para Uso Multiusuário (CEATIM), sua estrutura institucional, infraestrutura analítica, submissão de propostas, contratação, custos, governança e aplicações para pesquisa, desenvolvimento e inovação.
Atualização normativa importante
A governança atual do CEATIM deve ser analisada à luz da Portaria Inmetro nº 283, de 3 de junho de 2024, que instituiu o centro no âmbito da Diretoria de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia (Dimci), estabeleceu seu regulamento e revogou as Portarias nº 418/2019 e nº 463/2019.
O catálogo do serviço no Gov.br ainda menciona conjuntamente a Dimci e a Diretoria de Metrologia Aplicada às Ciências da Vida (Dimav). Já a página institucional do CEATIM atualizada em 2026 e a regulamentação de 2024 apresentam o centro sob responsabilidade da Dimci. Para fins de governança normativa, prevalece a disciplina atualmente vigente.
1. Introdução, origem e contexto institucional do CEATIM
O Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para Uso Multiusuário (CEATIM) integra a infraestrutura nacional voltada à pesquisa científica, à metrologia, ao desenvolvimento tecnológico e à inovação. Seu objetivo fundamental é promover o uso adequado e compartilhado de equipamentos científicos de elevada complexidade e custo, atendendo tanto à comunidade interna quanto a usuários externos.
O modelo multiusuário permite otimizar investimentos públicos em instrumentação científica. Em vez de restringir equipamentos sofisticados a um único projeto ou laboratório, a infraestrutura pode apoiar universidades, Instituições Científicas, Tecnológicas e de Inovação (ICTs), empresas, pesquisadores, laboratórios, empreendedores e projetos do setor produtivo.
Essa lógica é particularmente relevante para micro e pequenas empresas, startups e organizações que necessitam de caracterizações avançadas, mas para as quais a aquisição de microscópios eletrônicos, sistemas de espectrometria, equipamentos de análise de superfícies ou outras plataformas de alta complexidade seria economicamente inviável.
Além do acesso instrumental, o CEATIM possibilita interação com o corpo técnico-científico do Inmetro, reunindo conhecimento especializado em metrologia, caracterização de materiais, superfícies, nanotecnologia, química, ciências da vida e áreas correlatas.
O CEATIM está localizado no Campus de Inovação e Metrologia do Inmetro, em Xerém, distrito de Duque de Caxias, no Estado do Rio de Janeiro.
2. Infraestrutura analítica e tecnológica
A infraestrutura pública divulgada pelo Inmetro contempla plataformas de microscopia óptica, microscopia eletrônica e de íons, microscopia de varredura por sonda, análises químicas, espectroscopia, análises de superfícies, tribologia, espectrometria de massas, ressonância magnética nuclear, biologia molecular e sistemas de preparação de amostras.
Microscopia eletrônica e íons
Equipamentos para caracterização morfológica e estrutural em escalas micro, nano e subnanométrica, incluindo TEM, STEM, SEM, FIB e microscopia de íons.
Superfícies e espectroscopia
Sistemas para AFM, Raman, STM, XPS, difração de raios X, UV-VIS e outras técnicas destinadas à caracterização físico-química e estrutural.
Tribologia e propriedades
Plataformas para avaliação de atrito, desgaste, rugosidade, perfil de superfícies e propriedades mecânicas em diferentes escalas.
O modelo do CEATIM está alinhado ao conceito da Plataforma Nacional de Infraestrutura de Pesquisa do Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (PNIPE/MCTI), destinada a ampliar a visibilidade, o compartilhamento e o aproveitamento da infraestrutura científica instalada no País.
3. Mapeamento dos principais equipamentos e técnicas
A relação abaixo consolida as plataformas descritas no material analisado e nas páginas públicas do Inmetro. Alguns códigos de serviço são registros utilizados em catálogos e processos específicos e podem sofrer atualização. Por isso, a disponibilidade, o código aplicável e a configuração instrumental devem ser confirmados com o Inmetro no momento da proposta.
| Área / Laboratório | Código informado | Equipamento / Técnica | Fabricante / Modelo | Aplicação principal |
|---|---|---|---|---|
| Microscopia | 7501 | CEATIM TITAN | FEI Titan 80-300 | Microscopia eletrônica de transmissão e varredura em alta resolução, HRTEM/HRSTEM, EDS e EELS. |
| Microscopia | 7502 | Tecnai 80-120 kV | FEI Tecnai | Microscopia eletrônica de transmissão, incluindo materiais, polímeros e amostras biológicas. |
| Microscopia | 7503 / CodF7QC17/24 | DualBeam Helios NanoLab 650 | FEI / Helios NanoLab 650 | FEG-SEM e FIB para caracterização nanoestrutural, cortes, preparação e análises tridimensionais. |
| Microscopia | 7504 / 7558 | Quanta 200 | FEI / Quanta 200 | Microscopia eletrônica de varredura em alto e baixo vácuo e modo ambiental, com microanálise. |
| Microscopia | 7505 / 7506 / 7509 | Nova NanoLab 600 | FEI / Nova NanoLab 600 | Sistema DualBeam FEG-SEM/FIB para preparação de lamelas, cortes transversais e microanálises. |
| Microscopia de íons | 7507 | Orion NanoFab | Zeiss / Orion NanoFab | Feixes de hélio, neônio e gálio para imagem, nanofabricação e litografia com resolução nanométrica. |
| Microscopia | 7511 | Magellan | FEI / linha Magellan | Microscopia eletrônica de varredura por emissão de campo em alta resolução. |
| Superfícies | 7512 | Microscopia de Força Atômica | JPK Instruments | Topografia, rugosidade, forças, propriedades nanomecânicas e caracterização superficial. |
| Superfícies | 7513 | STM em ultra-alto vácuo | Scienta Omicron | Microscopia de tunelamento por varredura e análise de superfícies em resolução atômica. |
| Superfícies | 7514 | XPS | Scienta Omicron | Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X para composição e estado químico de superfícies. |
| Superfícies | 7515 | AFM / Raman confocal | WITec Alpha300 AR | Correlação entre topografia nanométrica e informações químicas e estruturais obtidas por Raman. |
| Difração e espectroscopia | 7516 | Difração de Raios X | Bruker D8 Focus | Identificação e caracterização de fases cristalinas em materiais sólidos e pós. |
| Difração e espectroscopia | 7518 / CódT5Y44V/20 | DRX de alta resolução | Bruker D8 Discover | Análises estruturais, filmes finos, textura e configurações especializadas de difração. |
| Espectroscopia | 7519 | UV/VIS/NIR | PerkinElmer Lambda 950 | Absorção, transmitância e reflectância óptica aproximadamente entre 200 e 2500 nm. |
| Espectroscopia | 7520 / 7521 | Espectroscopia Raman | Configuração conforme laboratório | Caracterização química e estrutural, incluindo materiais de carbono, grafeno e nanoestruturas. |
| Análise química | 7226 / Cod6NX79E/23 | Fluorescência de Raios X | Bruker S4 Pioneer | Caracterização elementar por fluorescência de raios X. |
| Espectrometria de massas | CodM2P9S1/22 | Synapt HDMS | Waters / Synapt HDMS | Espectrometria de massas de alta resolução com mobilidade iônica, aplicada a diferentes matrizes. |
| Microscopia óptica | Cod3T54HU/21 | Microscópio confocal | Leica TCS SP5 | Microscopia confocal de varredura a laser aplicada às ciências da vida e materiais. |
| Tribologia | 7522 | Tribômetro TriboLab | Bruker / TriboLab | Ensaios de atrito, desgaste e lubrificação sob diferentes condições mecânicas. |
| Tribologia | 7523 / 7524 | Tribômetros UMT / UNMT | CETR | Ensaios de desgaste e atrito em escalas micro e macroscópica e diferentes geometrias de contato. |
| Tribologia | 7525 | Medidor de forma e rugosidade | Taylor Hobson PGI 830 | Perfilometria mecânica de elevada precisão para rugosidade, forma e reconstrução de superfícies. |
Microscopia eletrônica e de íons
Entre os sistemas oficialmente descritos pelo Inmetro estão o FEI Titan 80-300, o Tecnai, o Helios NanoLab 650, o Nova NanoLab 600, o Quanta 200, equipamentos da linha Magellan e o Zeiss Orion NanoFab.
Essas plataformas possibilitam diferentes combinações de microscopia eletrônica de transmissão, varredura, feixe focalizado de íons, preparação de amostras, análise química por EDS, EELS, EBSD e outras técnicas, conforme a configuração de cada equipamento.
AFM, Raman, XPS e STM
O parque divulgado inclui microscopia de força atômica para caracterização topográfica, dimensional e mecânica; sistema híbrido AFM/Raman confocal; espectroscopia de fotoelétrons por raios X e microscopia de tunelamento por varredura em ambiente de ultra-alto vácuo.
Espectrometria de massas e ciências da vida
O CEATIM também divulga plataformas de espectrometria de massas de alta resolução, incluindo sistemas Synapt HDMS com mobilidade iônica, além de microscopia confocal e equipamentos destinados à biologia molecular e preparação de amostras.
4. Como solicitar um serviço no CEATIM
A prestação segue uma sequência de análise técnica, avaliação de disponibilidade, formalização das condições de fornecimento, agendamento e realização do ensaio ou experimento.
Preparar e enviar a proposta
O interessado deve encaminhar e-mail para samci@inmetro.gov.br utilizando no assunto a identificação “Proposta CEATIM”.
A proposta deve contemplar os elementos solicitados oficialmente:
- Título da proposta;
- Identificação do proponente;
- Informação sobre ser uma nova proposta ou projeto já existente;
- Pesquisador do Inmetro que organizará, participará ou realizará os ensaios, quando aplicável;
- Base científica e impacto esperado;
- Caracterização prévia do material;
- Equipamento pretendido;
- Tempo necessário e número de amostras;
- Método pretendido;
- Resultados esperados.
Para técnicas particularmente sofisticadas, como microscopia eletrônica de transmissão, o Inmetro orienta que a proposta justifique por que uma técnica mais simples não seria suficiente para produzir o resultado científico desejado.
Prazo informado para esta etapa: entre 5 e 7 dias úteis.
Análise e alocação do equipamento
O Comitê Administrativo analisa a solicitação e a necessidade de alocação de tempo e equipamento conforme a demanda e a disponibilidade operacional.
A página de submissão do CEATIM informa que os equipamentos vinculados ao centro são disponibilizados à comunidade em 50% do seu tempo útil.
Consulta para Prestação de Serviço e orçamento
Após o enquadramento técnico, o responsável pelo laboratório detalha a solicitação na Consulta para Prestação de Serviço (CPS).
O apoio operacional da Dimci registra os dados necessários no sistema corporativo e encaminha ao usuário as condições aplicáveis à prestação.
Aceitar as condições de fornecimento
O usuário deve responder à própria consulta declarando expressamente o aceite das condições de fornecimento, incluindo aspectos como preço, prazo e nível de serviço.
Enviar a amostra e realizar o ensaio
O agendamento é combinado entre o usuário e o pesquisador responsável pelo laboratório. As partes também definem a forma de envio das amostras e eventual acompanhamento ou participação do usuário durante os ensaios ou experimentos.
5. Dados operacionais do serviço
| Parâmetro | Informação |
|---|---|
| Público-alvo | Empresas, empreendedores, laboratórios, instituições de pesquisa e pesquisadores. |
| Canal principal | samci@inmetro.gov.br |
| Assunto do e-mail | Proposta CEATIM |
| Local de atendimento | Campus de Inovação e Metrologia do Inmetro, Av. Nossa Senhora das Graças, 50, Xerém, Duque de Caxias – RJ. |
| CEP | 25250-020 |
| Horário presencial informado no serviço | Das 8h às 16h30. |
| Tempo estimado de espera presencial | Até 30 minutos. |
| Amostra sem valor declarado | O catálogo do serviço informa não haver documentação adicional específica nessa etapa. |
| Item de valor declarado | Cópia da nota fiscal com o valor do item. |
| Prazo médio estimado | 30 dias úteis para a prestação do serviço. |
O próprio portal Gov.br ressalta que o prazo de atendimento é fortemente impactado pela negociação da proposta de fornecimento, especialmente quando é necessário esclarecer o nível de serviço esperado, o procedimento experimental, a incerteza de medição, a rastreabilidade e outros requisitos técnicos.
6. Custos, governança financeira e critérios de atendimento
Como é formado o preço?
O serviço não deve ser interpretado como possuindo um preço único aplicável indistintamente a todas as propostas. O catálogo Gov.br informa que o custo relativo ao homem/hora do pesquisador ou técnico depende da proposta.
A regulamentação do CEATIM também prevê mecanismos de avaliação e definição dos valores segundo a política institucional aplicável. Assim, características como duração do experimento, complexidade, preparação da amostra, utilização instrumental, insumos e requisitos específicos podem influenciar a composição do valor final.
A condição econômica aplicável ao caso concreto deve constar da documentação da prestação de serviço apresentada ao interessado para aceite.
Compartilhamento para pesquisa, desenvolvimento e inovação
Material institucional do Inmetro também apresenta o CEATIM como mecanismo de compartilhamento de laboratórios para atividades de pesquisa, desenvolvimento e inovação. Nesse contexto, a utilização deve ser compatível com as atividades finalísticas do Instituto e pode envolver instrumentos jurídicos e formas de contrapartida adequadas ao projeto.
Atendimento ao usuário
De acordo com o catálogo oficial do serviço, o atendimento está sujeito aos princípios previstos na Lei nº 13.460/2017, incluindo urbanidade, respeito, acessibilidade, cortesia, presunção de boa-fé, igualdade, eficiência, segurança e ética.
O atendimento presencial também deve respeitar as regras de prioridade da Lei nº 10.048/2000, abrangendo, entre outros grupos previstos legalmente:
- Pessoas com deficiência;
- Pessoas idosas com idade igual ou superior a 60 anos;
- Gestantes;
- Lactantes;
- Pessoas acompanhadas por crianças de colo;
- Pessoas obesas.
7. Impacto científico, econômico e tecnológico do CEATIM
A existência de uma infraestrutura multiusuário de alta complexidade amplia a eficiência da aplicação de recursos públicos em ciência e tecnologia. Equipamentos de custo elevado podem ser utilizados por diferentes grupos científicos, projetos empresariais e iniciativas de inovação, reduzindo duplicações desnecessárias de investimento e aumentando a utilização da capacidade instalada.
Para o setor produtivo, o acesso a microscopia eletrônica, espectrometria de massas, caracterização de superfícies, difração, espectroscopia e tribologia pode reduzir barreiras à execução de projetos de pesquisa e desenvolvimento que exigem infraestrutura inexistente internamente na empresa.
Esse modelo também favorece a interação entre pesquisadores, metrologistas e empresas. A consequência potencial é a circulação de conhecimento científico e metrológico, o desenvolvimento de novas metodologias e a obtenção de dados tecnicamente mais robustos para investigação de materiais, produtos e processos.
Nanotecnologia
Microscopia eletrônica, íons focalizados, AFM, Raman e análise superficial podem apoiar estudos de materiais bidimensionais, nanopartículas, filmes, dispositivos e nanoestruturas.
Biotecnologia e ciências da vida
Microscopia confocal, microscopia eletrônica, espectrometria de massas e plataformas moleculares podem apoiar a caracterização de amostras biológicas e bioanalíticas.
Engenharia de materiais
Difração, espectroscopia, microscopia, tribologia e análises superficiais possibilitam investigar composição, estrutura, defeitos, desgaste, propriedades e desempenho de materiais.
Integração com a infraestrutura nacional de pesquisa
A estruturação do CEATIM também se relaciona com a estratégia nacional de compartilhamento de infraestrutura científica. A Portaria nº 283/2024 faz referência à inserção do Inmetro na Plataforma Nacional de Infraestrutura de Pesquisa do MCTI, a PNIPE.
A PNIPE funciona como instrumento de mapeamento e divulgação da infraestrutura de pesquisa existente nas ICTs brasileiras, favorecendo a localização e o compartilhamento de laboratórios e equipamentos pela comunidade científica, tecnológica e empresarial.
8. Pontos que devem ser confirmados antes da contratação
Como a utilização do CEATIM depende de análise técnica e disponibilidade, é recomendável que o interessado esclareça previamente os aspectos que podem interferir no custo, no prazo e na viabilidade do projeto.
- Se a técnica pretendida é a mais adequada à pergunta científica ou tecnológica;
- Se o equipamento está operacional e disponível no período pretendido;
- Quantidade, dimensões e características das amostras;
- Necessidade de preparação prévia ou preparação pelo laboratório;
- Riscos físicos, químicos ou biológicos associados à amostra;
- Condições de armazenamento e transporte;
- Tempo instrumental necessário;
- Método analítico pretendido;
- Requisitos de incerteza e rastreabilidade, quando aplicáveis;
- Forma de apresentação dos resultados;
- Possibilidade ou necessidade de acompanhamento presencial;
- Custos e condições formais da prestação.
9. Fontes oficiais e referências consultadas
-
Inmetro – Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para Uso Multiusuário (CEATIM).
Página institucional do centro, atualizada em 2026.
Consultar no portal oficial do Inmetro -
Inmetro – Submissão de proposta ao CEATIM.
Requisitos da proposta, disponibilidade dos equipamentos, agendamento e contato institucional.
Consultar submissão de proposta -
Inmetro – Infraestrutura do CEATIM.
Relação pública de plataformas e descrições técnicas dos equipamentos multiusuários.
Consultar infraestrutura oficial -
Gov.br – Obter serviços de ensaio no CEATIM.
Público-alvo, etapas, documentação, custos, endereço, prazo médio e regras de atendimento.
Consultar serviço no Gov.br -
Inmetro – Microscopia Eletrônica.
Infraestrutura laboratorial de microscopia eletrônica e de íons da área de materiais e superfícies.
Consultar laboratório -
Portaria Inmetro nº 283, de 3 de junho de 2024.
Norma que institui o CEATIM no âmbito da Dimci, estabelece seu regulamento e revoga as Portarias nº 418/2019 e nº 463/2019. -
Inmetro – Como o Inmetro pode interagir com empresas para apoiar a inovação.
Material institucional sobre compartilhamento de laboratórios, CEATIM e utilização de infraestrutura para pesquisa, desenvolvimento e inovação. -
MCTI – Plataforma Nacional de Infraestrutura de Pesquisa (PNIPE).
Informações institucionais sobre o mapeamento e compartilhamento da infraestrutura científica brasileira.
Consultar a PNIPE -
Lei nº 10.048, de 8 de novembro de 2000.
Dispõe sobre prioridade de atendimento às pessoas especificadas em lei. -
Lei nº 13.460, de 26 de junho de 2017.
Dispõe sobre participação, proteção e defesa dos direitos do usuário dos serviços públicos. -
Lei nº 10.973, de 2 de dezembro de 2004.
Marco legal de estímulo à inovação, incluindo hipóteses de compartilhamento de laboratórios, equipamentos, instrumentos e instalações de ICTs públicas.
Nota editorial: as informações foram consolidadas a partir das páginas oficiais disponíveis do Inmetro, Gov.br, legislação e documentação institucional. Equipamentos, códigos de serviço, disponibilidade, preços, responsáveis técnicos, horários e procedimentos administrativos podem ser atualizados pelo órgão. Antes de protocolar uma demanda, consulte os canais oficiais do Inmetro.
